三相微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀/校驗(yàn)儀 整組傳動(dòng)，能摸擬各種簡(jiǎn)單或復(fù)雜的瞬時(shí)性，*性，轉(zhuǎn)換性故障，可在基 波上疊加暫態(tài)直流分量。
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KJ880六相微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)試驗(yàn)裝置 采用進(jìn)口大功率高保真模塊式功率器件做功率輸出級(jí)，結(jié)合精心合理設(shè)計(jì)的散熱結(jié)構(gòu)，具有足夠大的功率冗余和熱容量，功放電路具有完備的過(guò)熱、過(guò)流、過(guò)壓及短路保護(hù)，電流回路允許開(kāi)路，不會(huì)損壞裝置。
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GF703微機(jī)繼電保護(hù)校驗(yàn)儀 可以較好地模擬各種短路故障時(shí)的電流，電壓特征。功放電路采用進(jìn)口大功率高保真模塊式功率器件做功率輸出級(jí)，結(jié)合精心合理設(shè)計(jì)的散熱結(jié)構(gòu)，具有足夠大的功率冗余和熱容量，功放電路具有完備的過(guò)熱、過(guò)流、過(guò)壓及短路保護(hù)，電流回路允許開(kāi)路，不會(huì)損壞裝置。
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六相微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀0.1級(jí)生產(chǎn)直銷(xiāo) 智能型主機(jī)，主機(jī)采用DSP芯片控制，16位DAC輸出，對(duì)基波可產(chǎn)生每周2000點(diǎn)的高密度正弦波，為國(guó)內(nèi)測(cè)試儀中的Z高水平。大大改善了波形質(zhì)量，提高了測(cè)試儀的精度。
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供應(yīng)單相繼電保護(hù)測(cè)試儀/試驗(yàn)箱微機(jī) 智能型主機(jī)，主機(jī)采用DSP芯片控制，16位DAC輸出，對(duì)基波可產(chǎn)生每周2000點(diǎn)的高密度正弦波，為國(guó)內(nèi)測(cè)試儀中的Z高水平。大大改善了波形質(zhì)量，提高了測(cè)試儀的精度。
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六相微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀上海* 采用6000系列DSP控制器作為核心，F(xiàn)PGA可編程邏輯器件輸出波形，由于采用的是DDS硬件輸出波形的技術(shù)，使波形頻率和相位精度相當(dāng)高，同時(shí)，該系統(tǒng)與工控機(jī)通訊直接采用USB2.0接口，使得數(shù)據(jù)通訊穩(wěn)定可靠。
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微機(jī)繼保儀、繼電保護(hù)測(cè)試儀生產(chǎn)廠家 采用6000系列DSP控制器作為核心，F(xiàn)PGA可編程邏輯器件輸出波形，由于采用的是DDS硬件輸出波形的技術(shù)，使波形頻率和相位精度相當(dāng)高，同時(shí)，該系統(tǒng)與工控機(jī)通訊直接采用USB2.0接口，使得數(shù)據(jù)通訊穩(wěn)定可靠。
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120微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀 采用6000系列DSP控制器作為核心，F(xiàn)PGA可編程邏輯器件輸出波形，由于采用的是DDS硬件輸出波形的技術(shù)，使波形頻率和相位精度相當(dāng)高，同時(shí)，該系統(tǒng)與工控機(jī)通訊直接采用USB2.0接口，使得數(shù)據(jù)通訊穩(wěn)定可靠。
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KJ660/KJ880六相繼電保護(hù)測(cè)試儀工控系統(tǒng) 整組傳動(dòng)，能摸擬各種簡(jiǎn)單或復(fù)雜的瞬時(shí)性，*性，轉(zhuǎn)換性故障，可在基 波上疊加暫態(tài)直流分量。
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微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀三相六相 功放電路采用進(jìn)口大功率高保真模塊式功率器件做功率輸出級(jí)，結(jié)合精心合理設(shè)計(jì)的散熱結(jié)構(gòu)，具有足夠大的功率冗余和熱容量，功放電路具有完備的過(guò)熱、過(guò)流、過(guò)壓及短路保護(hù)，電流回路允許開(kāi)路，不會(huì)損壞裝置。
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單相微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀廠家 可以較好地模擬各種短路故障時(shí)的電流，電壓特征。功放電路采用進(jìn)口大功率高保真模塊式功率器件做功率輸出級(jí)，結(jié)合精心合理設(shè)計(jì)的散熱結(jié)構(gòu)，具有足夠大的功率冗余和熱容量，功放電路具有完備的過(guò)熱、過(guò)流、過(guò)壓及短路保護(hù)，電流回路允許開(kāi)路，不會(huì)損壞裝置。
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KJ880六相繼電保護(hù)綜合測(cè)試儀批發(fā) 智能型主機(jī)，主機(jī)采用DSP芯片控制，16位DAC輸出，對(duì)基波可產(chǎn)生每周2000點(diǎn)的高密度正弦波，為國(guó)內(nèi)測(cè)試儀中的Z高水平。大大改善了波形質(zhì)量，提高了測(cè)試儀的精度。
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